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SIPDR電阻率測(cè)試夾具用于測(cè)量超材料和電阻膜的表面阻抗，以及用于半導(dǎo)體晶片的電導(dǎo)率的非接觸式測(cè)量；可以測(cè)量的薄膜材料范圍包括表面阻抗Rs 20kΩ/sq的電阻層、金屬薄膜和導(dǎo)電聚合物薄膜。